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AFM原位柔性彎曲測試夾具II

AFM原位彎曲測試夾具II

第二代 PR-AFM-BM2

★★★★★

市場價：詳詢

本產品為可更換配件夾具，具有多種功能：

彎曲測試：可以實現在AFM下對樣品進行大尺度且精確可控的三點彎曲，無需預先彎曲樣品，并且在彎折同時兼容對樣品原位的光學和電學激勵和測量；

接受定制，請掃描下方二維碼咨詢。

咨詢

隨著時代的進步，消費電子設備逐漸向輕薄化發展，柔性電子器件陸續出現在人們生活中。這些器件的制備工藝隨著層出不窮的新材料以及各種材料相互搭配使用而復雜化。因此，科研工作者就需要分析材料及所其制備的薄膜、器件樣品在被反復彎曲/拉伸、以及截面的表面形貌和性能。
原子力顯微鏡（AFM）一直以來是表征材料表面形貌、電學性能的有力工具，但受限于AFM儀器的狹窄操作區域，操作者無法對樣品進行拉伸或擠壓來獲得原位測試數據。為此，本公司特意設計了這套尺寸可匹配AFM操作平臺，能夠研究柔性材料在拉伸、擠壓下的應力應變性能的夾具裝置。該裝置還可升級配備自動化軟件，能為材料提供疲勞測試、電磁光學激勵，同時還能提供不同溫度/濕度/溶液環境、或增加CCD監測設備，為研究柔性材料的各項性質提供了可能性。

適用AFM系統

牛津儀器 Asylum Research MFP-3D 系統

主要功能特點介紹

彎曲范圍大: 樣品彎曲范圍可從平展彎曲到3mm曲率半徑。

精確可控: 樣品彎曲度可由夾具一側的微分頭進行控制。特制的高精度滑臺和剛性懸臂可以保證彎曲的精確度和可重復性。

輔助裝夾裝置：配有樣品輔助裝夾裝置，方便裝載和調整樣品

結構穩定：全鋁合金結構，外表噴砂氧化，不易變形，底部設有螺絲固定孔，適配Asylum Research MFP-3D 樣品臺，無需顧慮旋鈕時引起樣品的震動。

產品宣傳冊下載 (English version)

AFM原位彎曲測試夾具II使用說明書 (待上傳)

至今，已經有很多國內外科研單位和高新科技企業（包括山西大學、南方科技大學、清華大學、北京理工大學、國家納米科學中心、蘇州大學、陜西師范大學、深圳先進技術研究院、華南師范大學等）使用本公司的AFM測試夾具對樣品實施原位拉伸、彎曲、擠壓、加熱等操作來獲得原位測試數據，并成功在國際高水平雜志期刊上發表文章（包括Ceramics International, Small Methods等）。

使用本公司AFM測試夾具所發表的部分論文列表：

	論文詳情	合作單位
	1. Yongming Fu, Lixia Guo, Zeqian Ren, Xiu Li, Qiwei Zhang, Jizhou Wu, Yuqing Li, Wenliang Liu, Peng Li, Jie Ma, Jing Hu. Enhanced property of flexible UV photodetectors based on electrospinning ZnO–SnO2 heterojunction nanofibers by the formation of Zn2SnO4. Ceramics International 49 (2023) 11402–11410. doi: 10.1016/j.ceramint.2022.11.339	山西大學
	2. Kaixin Liu, Fengyuan Zhang, Zhigang Liu, Chunlin Song, Lingyu Zhang, Wenjie Ming, Lingyu Yang, Yao Wang, Boyuan Huang, Jiangyu Li. Increased Deep Trap Density in Interfacial Engineered Nanocomposite Revealed by Sequential Kelvin Probe Force Microscopy for High Dielectric Energy Storage. Small Methods 2024, 2301755. doi: 10.1002/smtd.202301755	南方科技大學